O ORPAON

半导体装备

让设备软件自主可控,为良率分析与预测性维护打好数据底座。

行业痛点

  • 设备软件依赖进口或外包,迭代受制于人、自主可控诉求强。
  • 设备协议私有、数据采不上来,良率分析缺数据底座。
  • 装备出厂后状态黑箱,预维护无从下手。

我们的方案

  • 设备上位机定制:C#/WPF 现代架构(MVVM 分层、配置化设计),按设备与场景选型,不绑定客户技术路线;具备多语言界面能力。
  • 产线数采与 MES:多产线数据采集工程经验,设备状态、工艺参数、报警事件统一入库,为良率分析打底。
  • 状态诊断集成:ifm VSE 振动诊断工具链集成经验、IO-Link 振动传感器(内置 FFT)接入,预测性维护 HMI 已交付。
  • IoT 网关上云:多品牌网关集成,断网续传保障数据链完整。

典型实践

  • 某半导体设备商:外延设备上位机(C#/WPF)批量交付。
  • 某电子产线企业:SCR、YC、溶色线等多产线软件与数据采集。
  • 某光纤龙头企业:WPF 与罗克韦尔 PLC 的产线 HMI 与预测性维护振动画面。

能力延伸

  • 边缘 AI 网关(储备与试点方向)、设备数据服务化、预测性维护平台。

采购场景与转化路径

目标角色

  • · 设备研发负责人
  • · IT 主管
  • · 自动化主管

触发事件

  • · 设备软件断供或外包质量失控
  • · 国产化与自主可控诉求
  • · 装备出厂后状态黑箱,预维护无从下手

产品试点路径

已明确产品需求时:从 15 分钟演示与小范围试点开始,可从设备上位机配套起步。

预约产品演示

整体项目路径

只有行业问题时:从现场诊断与分阶段方案开始。设备上位机配套、产线数采、IoT 上云,分阶段建设。

申请现场诊断

设备软件自主可控,从一台上位机配套开始。

告诉我们您的行业与现场情况,获取诊断与分阶段方案建议。

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